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任意周期激励函数的模拟电路测试激励优化设计
科研通信 | 更新时间:2025-07-16
    • 任意周期激励函数的模拟电路测试激励优化设计

    • Test Stimulus Optimization Design of Analog Circuit Based on Random Periodic Stimulus Function

    • 电子学报   2011年39卷第8期 页码:1950-1954
    • 中图分类号: TP206+.3
    • 纸质出版:2011

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  • 罗慧, 王友仁, 林华, 等. 任意周期激励函数的模拟电路测试激励优化设计[J]. 电子学报, 2011,39(8):1950-1954. DOI:

    LUO Hui, WANG You-ren, LIN Hua, et al. Test Stimulus Optimization Design of Analog Circuit Based on Random Periodic Stimulus Function[J]. Acta Electronica Sinica, 2011, 39(8): 1950-1954. DOI:

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