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ICA去除EEG中眼动伪差和工频干扰方法研究
论文 | 更新时间:2025-07-16
    • ICA去除EEG中眼动伪差和工频干扰方法研究

    • Study on Applying Independent Component Analysis to Remove Blink Artifacts and Power Noise in EEG WAN Bai-kun,ZHU Xin,YANG Chun-mei,GAO-Yang

    • 电子学报   2003年31卷第10期 页码:1571-1574
    • 中图分类号: TH772+.2
    • 网络出版:2003-10-25

      纸质出版:2003

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  • 万柏坤, 朱 欣, 杨春梅, 等. ICA去除EEG中眼动伪差和工频干扰方法研究[J]. 电子学报, 2003,31(10):1571-1574. DOI:

    Study on Applying Independent Component Analysis to Remove Blink Artifacts and Power Noise in EEG WAN Bai-kun,ZHU Xin,YANG Chun-mei,GAO-Yang[J]. Acta Electronica Sinica, 2003, 31(10): 1571-1574. DOI:

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