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荫罩式彩显管电子束斑测量技术的研究
更新时间:2025-12-08
    • 荫罩式彩显管电子束斑测量技术的研究

    • The Measurement of the Beam Spot Profile of Shadow Mask CRT

    • 电子学报   1999年第6期 页码:13-15
    • 中图分类号: TN141.32
    • 纸质出版:1999

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  • [1]于莉,杜秉初,汪健如,汪荣军.荫罩式彩显管电子束斑测量技术的研究[J].电子学报,1999(06):13-15. DOI:

    于莉, 杜秉初, 汪健如, et al. The Measurement of the Beam Spot Profile of Shadow Mask CRT[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (6): 13-15. DOI:

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