并行测试的一种新策略——测试段划分

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并行测试的一种新策略——测试段划分

更新时间：2025-12-08

- 并行测试的一种新策略——测试段划分
- Parallel Testing Based on Test Subsession Partitioning
- 电子学报 1999年第2期
- 作者机构：
  
  清华大学微电子学研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金,国家九五攻关项目资助课题
- DOI：
  中图分类号： TN470.7
- 纸质出版：1999
- 稿件说明：
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[1]向东.并行测试的一种新策略——测试段划分[J].电子学报,1999(02):30-32+29.

Xiang Dong. Parallel Testing Based on Test Subsession Partitioning[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (2).
[1]向东.并行测试的一种新策略——测试段划分[J].电子学报,1999(02):30-32+29. DOI：

Xiang Dong. Parallel Testing Based on Test Subsession Partitioning[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (2). DOI：

摘要

由于测试响应观察及测试码置入只占用了测试时间的一部分，我们采用测试段划分策略来进一步利用测试调度资源．这样，原来在测试设计调度过程中冲突的子电路对采用测试段划分策略以后可能只是部分冲突了．文中提出了一种新的测试调度算法．该算法通过记录以往的冲突信息，提高了测试调度最优解的搜索效率．

Abstract

Considering the fact that test response observation and test application only use a fraction of test time

a test subsession partitioning scheme is presented.Some further sources of the test scheduling problem can be used.Subcircuits in conflict in the process of test are only partially in conflict now.A new test scheduling algorthm is proposed after the test subsession partitioning scheme has been combined.The effectiveness to search the test scheduling solution is improved greatly by using the previous conflict information.

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