精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响

雷威

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精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响

更新时间：2025-12-08

- 精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响
- Accurate Calculation of Influence of Electrode Perturbation in Electromagnetic Focusing System on Particle Trajectory
- 电子学报 1999年第3期页码：140-141
- 作者机构：
  
  1. 东南大学电子工程系!南京
  2. 210096
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号： O441
- 纸质出版：1999
- 稿件说明：
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[1]雷威.精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响[J].电子学报,1999(03):140-141+139.

Lei Wei. Accurate Calculation of Influence of Electrode Perturbation in Electromagnetic Focusing System on Particle Trajectory[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (3): 140-141.
[1]雷威.精确分析电磁聚焦系统结构参数微小变化对粒子轨迹的影响[J].电子学报,1999(03):140-141+139. DOI：

Lei Wei. Accurate Calculation of Influence of Electrode Perturbation in Electromagnetic Focusing System on Particle Trajectory[J]. Acta Electronica Sinica, 1999, (3): 140-141. DOI：

摘要

本文提出一种新的方法分析带电粒子光学系统中电极扰动对粒子轨迹的影响首先计算电位对扰动变量的导数，然后计算粒子轨迹等参量对扰动变量的导数，最后得到电极扰动对系统性能的影响与以前的一些计算方法相比较，本方法可以提高计算的准确性和效率

Abstract

This paper proposes a new way to calculate the influence of electrode perturbation on particle trajectory. In terms of variational principle

the derivative of potential versus electrode displacement is computed first. Then the derivative of practical trajectory is calculated and the influence of electrode perturbation on trajectory is obtained. Compared with old method

this algorithm can improve the computational accuracy and efficiency.

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