金属／绝缘层／金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系

张佑文; 孙承休; 高中林; 孙曰俊

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金属／绝缘层／金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系

更新时间：2025-12-08

- 金属／绝缘层／金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系
- Relation of Roughness and Emitting Spectrum of Metal／Insulator／Metal Tunnel Junction
- 电子学报 1997年第5期
- 作者机构：
  
  1. 东南大学电子工程系
  2. 东南大学物理系
  3. 东南大学电子工程系东南大学物理系
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(61701067;61702065)
- DOI：
  中图分类号： TN304
- 纸质出版：1997
- 稿件说明：
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[1]张佑文,孙承休,高中林,孙曰俊.金属／绝缘层／金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系[J].电子学报,1997(05):25-28.

张佑文, 孙承休, 高中林, et al. Relation of Roughness and Emitting Spectrum of Metal／Insulator／Metal Tunnel Junction[J]. Acta Electronica Sinica, 1997, (5).
[1]张佑文,孙承休,高中林,孙曰俊.金属／绝缘层／金属隧道结的粗糙度与发光光谱的关系[J].电子学报,1997(05):25-28. DOI：

张佑文, 孙承休, 高中林, et al. Relation of Roughness and Emitting Spectrum of Metal／Insulator／Metal Tunnel Junction[J]. Acta Electronica Sinica, 1997, (5). DOI：

摘要

在金属／绝缘层／金属（Ｍｅｔａｌ／Ｉｎｓｕｌａｔｏｒ／Ｍｅｔａｌ，ＭＩＭ）隧道结发光中，粗糙度与表面等离电磁场量子（ＳｕｒｆａｃｅＰｌａｓｍｏｎＰｏｌａｒｉｔｏｎ，ＳＰＰ）的耦合起着非常重要的作用．本文利用原子力显微镜摄得发光ＭＩＭ隧道结粗糙表面的照片，研究了粗糙度分布的统计结果与测得的发光光谱之间的关系．

Abstract

In the processing of light-emission of Metal/Insulator/Metal （MIM） tunnel junction

the roughness coupling with Surface Plasmon Polariton （SPP） plays an important role. withthe photos of the light-emission MIM junctions taken by Atomic Force Microscope（AFM）

we discussed the results of the statistical roughness distribution and the emitting spectrum measuredfrom the same MIM junction.

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