开端同轴线应用于无损检测的理论分析

刘宏

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开端同轴线应用于无损检测的理论分析

更新时间：2025-12-08

- 开端同轴线应用于无损检测的理论分析
- The EM Analysis of an Open-Ended Coaxial Line Used in Nondestructive Measurement
- 电子学报 1995年第8期
- 作者机构：
  
  中国科学院电子学研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(61701067;61702065)
- DOI：
  中图分类号： TN813.06
- 纸质出版：1995
- 稿件说明：
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[1]刘宏.开端同轴线应用于无损检测的理论分析[J].电子学报,1995(08):116-119.

Liu Hong. The EM Analysis of an Open-Ended Coaxial Line Used in Nondestructive Measurement[J]. Acta Electronica Sinica, 1995, (8).
[1]刘宏.开端同轴线应用于无损检测的理论分析[J].电子学报,1995(08):116-119. DOI：

Liu Hong. The EM Analysis of an Open-Ended Coaxial Line Used in Nondestructive Measurement[J]. Acta Electronica Sinica, 1995, (8). DOI：

摘要

基于测量待测物质在开端波导处的反射以确定其介电特性，由于无需制作样品而成为一种简便的无损检测方法，其关键是要确定反射系数与待测物质介电常数之间的对应关系。在本文中，应用并矢格林函数和特征模理论研究了同轴线开端处的电磁场，利用矩量法进行数值计算，得出介电常数与反射系数的数值对应关系。数值结果与有关文献的比较分析证实了理论分析的可靠性。

Abstract

The measurement of dielectric properties of a material based on the reflection in an open-ended waveguide is a simple and nondestructive technique

which does not require extracting any sample of the material to be measured.The key of it is to determine the relationship between the reflection factor and the permittivity of the material measured.In this paper

the EM field in the vicinity of the aperture is researched by means of the Dyadic Greens Function and the characteristic modes.The reflection factor is computed by moment method as a function of the dielectric constant.The validrty of the theoretical results is proved by comparing the numerical evaluation with previous paper.

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