器件参数提取和全域寻优

赵国南; 张蠡

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器件参数提取和全域寻优

更新时间：2025-12-08

- 器件参数提取和全域寻优
- Device Parameter Extraction and Global Optimization
- 电子学报 1991年第3期页码：84-88
- 作者机构：
  
  杭州电子工业学院IC-CAD/CAE研究中心
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家科技攻关项目
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1991
- 稿件说明：
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[1]赵国南,张蠡.器件参数提取和全域寻优[J].电子学报,1991(03):84-88+96.

Zhao Kuonan, Chang Li. Device Parameter Extraction and Global Optimization[J]. Acta Electronica Sinica, 1991, (3): 84-88.
[1]赵国南,张蠡.器件参数提取和全域寻优[J].电子学报,1991(03):84-88+96. DOI：

Zhao Kuonan, Chang Li. Device Parameter Extraction and Global Optimization[J]. Acta Electronica Sinica, 1991, (3): 84-88. DOI：

摘要

本文用全域寻优算法探索了器件参数提取

因为软件方法比用硬件方法有利

所以偏重于软件。文中以CaAs MESFET器件参数提取为例

验证了全域寻优算法

同时也解决了器件参数提取中解的唯一性问题。

Abstract

The device parameter extraction is studied by means of global optimization in thrs paperr. The method depends largely upon software and has more advantages than using hardware. Take the device parameter extraction of GaAs MESFET for example

the global optimization is verified and the problem of its solution uniqueness is solved as well.

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