一种新的模拟电路多故障诊断方法

李艳; 童诗白

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一种新的模拟电路多故障诊断方法

更新时间：2025-12-08

- 一种新的模拟电路多故障诊断方法
- A New Fault Diagnosis Method for Analog Circults
- 电子学报 1990年第4期页码：109-111
- 作者机构：
  
  清华大学自动化系
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(61701067;61702065)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1990
- 稿件说明：
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[1]李艳,童诗白.一种新的模拟电路多故障诊断方法[J].电子学报,1990(04):109-111.

Li Yan, Tong Shibai. A New Fault Diagnosis Method for Analog Circults[J]. Acta Electronica Sinica, 1990, (4): 109-111.
[1]李艳,童诗白.一种新的模拟电路多故障诊断方法[J].电子学报,1990(04):109-111. DOI：

Li Yan, Tong Shibai. A New Fault Diagnosis Method for Analog Circults[J]. Acta Electronica Sinica, 1990, (4): 109-111. DOI：

摘要

本文提出了一种新的模拟电路多故障诊断方法——组合优化模拟退火法。该方法采用组合优化的思想

综合参数辨识法与故障验证法这两类故障诊断方法的优势

提出了解决测试端口个数小于元件参数个数的诊断方程欠定问题的目标函数

通过模拟退火优化算法对目标函数寻优

可定出故障元件值及非故障元件的容差值

并保证所得解收敛于全局最优。

Abstract

This paper deals with fault diagnosis problems in analog circuits

taking the design tolerances on the nonfaulty elements into consideration.A new diagnosis method based on simulated annealing combinatorial optimization technique is proposed. An effective and computational algorithm is presented. Finally

an example illustrating the application of this method is included.

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