一种新的功能级数字电路测试生成算法

茅巍巍; 阮根鸿; 凌燮亭

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一种新的功能级数字电路测试生成算法

更新时间：2025-12-08

- 一种新的功能级数字电路测试生成算法
- A New Test Generation Algorithm for Functional Level Digital Circuits
- 电子学报 1986年第6期页码：99-106
- 作者机构：
  
  复旦大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1986
- 稿件说明：
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[1]茅巍巍,阮根鸿,凌燮亭.一种新的功能级数字电路测试生成算法[J].电子学报,1986(06):99-106.

Mao Wei-wei, Ruan Gen-hong, Ling Xie-ting. A New Test Generation Algorithm for Functional Level Digital Circuits[J]. Acta Electronica Sinica, 1986, (6): 99-106.
[1]茅巍巍,阮根鸿,凌燮亭.一种新的功能级数字电路测试生成算法[J].电子学报,1986(06):99-106. DOI：

Mao Wei-wei, Ruan Gen-hong, Ling Xie-ting. A New Test Generation Algorithm for Functional Level Digital Circuits[J]. Acta Electronica Sinica, 1986, (6): 99-106. DOI：

摘要

本文利用过程式功能描述语言描述功能级电路

建立由功能图和数据流图构成的信息流模型。在此模型的基础上

试图提出一种新的、适合于一般功能级电路的测试生成算法。根据本算法

用FORTRAN语言编制的一个测试生成程序

已在PDP-11/23机上实现。

Abstract

More attention has been given to the test generation for functional level digital circuits with the development of LSI and VLSI. In the paper

functional level circuits are described by means of the procedural function description language and an information flow model

which is constructed by using a function graph and a data flow graph. Based on this model a new test generation algorithm for functional level circuits is presented. On the basis of the algorithm a program written in FORTRAN Ⅳ has been developed on PDP-11/23.

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