电离真空计的微观理论

王欲知

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电离真空计的微观理论

更新时间：2025-12-08

- 电离真空计的微观理论
- THE THEORETICAL INVESTIGATION OF HOT-CATHODE IONIZATION GAUGE
- 电子学报 1965年第1期页码：41-47
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- 纸质出版：1965
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[1]王欲知.电离真空计的微观理论[J].电子学报,1965(01):41-47.

WANG YU-CHIH. THE THEORETICAL INVESTIGATION OF HOT-CATHODE IONIZATION GAUGE[J]. Acta Electronica Sinica, 1965, (1): 41-47.
[1]王欲知.电离真空计的微观理论[J].电子学报,1965(01):41-47. DOI：

WANG YU-CHIH. THE THEORETICAL INVESTIGATION OF HOT-CATHODE IONIZATION GAUGE[J]. Acta Electronica Sinica, 1965, (1): 41-47. DOI：

摘要

本文利用“理想繁流放电微观理论”一文所得结果

为电离真空计建立了一个基本理论。从所得理论结果发现:破坏线性关系的因素

除了已知的电子繁流现象外

尚存在另外一个因素—电离碰撞几率的影响。同时还证明了这两个因素对线性关系破坏的趋向是相同的。作者尝试应用“碰撞序”及“电子代”概念来对电离真空计的微观过程做较深入的了解。

Abstract

By using results from the previous paper[1]

a fundamental theory is given to the hot-cathode ionization gauge with the concept of order of collision and electron generation. It is shown that the factors affecting the linearity of an ionization gauge are not only by electron avalanche[2]

but also by the so-called "probability of ionizing collision".

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