硅基阻挡杂质带太赫兹探测器及其成像研究

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科研通信 | 更新时间：2025-12-08

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- 硅基阻挡杂质带太赫兹探测器及其成像研究
- Study on the Silicon Based Blocked-Impurity-Band Terahertz Detector and Its Application for Imaging
- 王兵兵，王晓东，陈雨璐，张传胜，臧元章，潘鸣，曹俊诚
- 电子学报 2021年49卷第9期页码：1867-1872
- 作者机构：
  1.中国科学院上海微系统与信息技术研究所中国科学院太赫兹固态技术重点实验室，上海 200050
  2.中国科学院大学材料与光电研究中心，北京 100049
  3.中国电子科技集团公司第五十研究所，上海 200331
- 作者简介：
  王兵兵　男，1985年生，安徽颍上人.高级工程师，主要从事太赫兹半导体器件、探测及成像应用等研究工作. E-mail:wbb0308201@163.com
  曹俊诚（通信作者）　男，1967年出生，江西万年人.中国科学院上海微系统与信息技术研究所研究员、博士生导师，长期从事太赫兹（THz）半导体器件及其通信与成像应用等研究工作.E-mail:jccao@mail.sim.ac.cn
- 基金信息：
  国家自然科学基金(61705201;61927813;61975225);国家重点研发计划(2017YFA0701005);上海市科学技术委员会(18590780100)
- DOI： 10.12263/DZXB.20190791
  中图分类号：
- 修回：2021-03-03 ，
- 稿件说明：
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