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32nm CMOS工艺三点翻转自恢复锁存器设计
科研通信 | 更新时间:2025-12-08
    • 32nm CMOS工艺三点翻转自恢复锁存器设计

    • Design of Triple-Node-Upset Self-Recovery Latch in 32nm CMOS Technology

    • 黄正峰 ,潘尚杰 ,曹剑飞 ,宋钛 ,欧阳一鸣 ,梁华国 ,倪天明 ,鲁迎春
    • 电子学报 2021年49卷第2期 页码:394-400
    • DOI: 10.12263/DZXB.20200530     

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