基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测

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基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测

学术论文 | 更新时间：2025-12-11

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- 基于LSTM-DHMM的MOSFET器件健康状态识别与故障时间预测
- Health Status Identification and Fault Time Prediction of MOSFET Device Based on LSTM-DHMM
- 张明宇，王琦，于洋
- 电子学报 2022年50卷第3期页码：643-651
- 作者机构：
  1.沈阳工业大学信息科学与工程学院，辽宁沈阳 110870
  2.辽宁工业大学，辽宁锦州 121001
- 作者简介：
  张明宇女，1987年生于辽宁沈阳.博士研究生.主要研究方向为故障诊断技术、健康监测.E-mail:jiabingde@126.com
  王琦男，1965年生于吉林梅河口.教授、博士生导师.主要研究方向为计算机技术在环境监测管理中的应用、装备状态监测及故障诊断、航空发动机污染与测试技术.E-mail:wangqi@lnut.edu.cn
  于洋女，1967年生于辽宁沈阳.博士、教授、博士生导师.主要研究方向为装备故障监测与健康管理.E-mail:yuy@sut.edu.cn
- 基金信息：
  中航创新基金(sh2012-18)
- DOI： 10.12263/DZXB.20210047
  中图分类号：
- 修回：2021-06-26 ，
- 稿件说明：
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