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基于关键边概率与路径层接近度的多路径覆盖测试
学术论文 | 更新时间:2025-12-08
    • 基于关键边概率与路径层接近度的多路径覆盖测试

    • An Approach to Multi-Path Coverage Testing Based on Key Edge Probability and Path Layer Proximity

    • 电子学报   2023年51卷第5期 页码:1341-1349
    • DOI:10.12263/DZXB.20220983    

      中图分类号: TP311
    • 收稿:2022-08-24

      修回:2022-12-28

      纸质出版:2023-05-25

    移动端阅览

  • 钱忠胜,成轶伟,俞情媛等.基于关键边概率与路径层接近度的多路径覆盖测试[J].电子学报,2023,51(05):1341-1349. DOI: 10.12263/DZXB.20220983.

    QIAN Zhong-sheng,CHENG Yi-wei,YU Qing-yuan,et al.An Approach to Multi-Path Coverage Testing Based on Key Edge Probability and Path Layer Proximity[J].ACTA ELECTRONICA SINICA,2023,51(05):1341-1349. DOI: 10.12263/DZXB.20220983.

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