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GaN基异质结霍尔传感器封装测试与输出特性
学术论文 | 更新时间:2025-12-08
    • GaN基异质结霍尔传感器封装测试与输出特性

    • Package Test and Output Characteristics of GaN-Based Hetero Junction Structure Hall Sensors

    • 电子学报   2024年52卷第8期 页码:2737-2745
    • DOI:10.12263/DZXB.20230262    

      中图分类号: TP212;
    • 收稿:2023-03-23

      修回:2023-07-25

      纸质出版:2024-08-25

    移动端阅览

  • 马凯鸣,代建勋,张卉,等. GaN基异质结霍尔传感器封装测试与输出特性[J]. 电子学报,2024,52(08):2737-2745. DOI:10.12263/DZXB.20230262

    MA Kai-ming, DAI Jian-xun, ZHANG Hui, et al. Package Test and Output Characteristics of GaN-Based Hetero Junction Structure Hall Sensors[J]. Acta Electronica Sinica, 2024, 52(08): 2737-2745. DOI:10.12263/DZXB.20230262

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