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基于IGZO薄膜晶体管的高可靠性时分驱动GOA电路
学术论文 | 更新时间:2025-12-11
    • 基于IGZO薄膜晶体管的高可靠性时分驱动GOA电路

    • Highly Reliable Gate Driver on Array Circuit Using Time-Division Driving Method Base on IGZO Thin Film Transistor

    • 电子学报   2023年51卷第12期 页码:3463-3472
    • DOI:10.12263/DZXB.20230367    

      中图分类号: TN321.5;
    • 收稿:2023-04-21

      修回:2023-09-23

      纸质出版:2023-12-25

    移动端阅览

  • 周刘飞,邵贤杰,王海宏等.基于IGZO薄膜晶体管的高可靠性时分驱动GOA电路[J].电子学报,2023,51(12):3463-3472. DOI: 10.12263/DZXB.20230367.

    ZHOU Liu-fei,SHAO Xian-jie,WANG Hai-hong,et al.Highly Reliable Gate Driver on Array Circuit Using Time-Division Driving Method Base on IGZO Thin Film Transistor[J].ACTA ELECTRONICA SINICA,2023,51(12):3463-3472. DOI: 10.12263/DZXB.20230367.

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