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基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案
学术论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

    • Performance Parameter Testing for ADC and DAC IP Cores Without I/O Multiplexing in SoC Using Verigy 93000

    • 电子学报   2013年41卷第7期 页码:1358-1364
    • DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.018    

      中图分类号: TP306.2
    • 纸质出版:2013

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  • 裴颂伟, 李兆麟, 李圣龙, 等. 基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案[J]. 电子学报, 2013,41(7):1358-1364. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.018.

    PEI Song-wei, LI Zhao-lin, LI Sheng-long, et al. Performance Parameter Testing for ADC and DAC IP Cores Without I/O Multiplexing in SoC Using Verigy 93000[J]. Acta Electronica Sinica, 2013, 41(7): 1358-1364. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.018.

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