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接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型
学术论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型

    • Coupling Loss Model of CICC with Contact Resistance and Cabling Sequence

    • 电子学报   2014年42卷第5期 页码:953-957
    • DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2014.05.018    

      中图分类号: TM249+.7
    • 纸质出版:2014

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  • 蒋华伟, 李战升, 武松涛. 接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型[J]. 电子学报, 2014,42(5):953-957. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.05.018.

    JIANG Hua-wei, LI Zhan-sheng, WU Song-tao. Coupling Loss Model of CICC with Contact Resistance and Cabling Sequence[J]. Acta Electronica Sinica, 2014, 42(5): 953-957. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.05.018.

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