您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
温度与振动耦合条件下的电路板级焊点失效模式与疲劳寿命分析
学术论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 温度与振动耦合条件下的电路板级焊点失效模式与疲劳寿命分析

    • Analysis of Failure Modes and Life of Solder Joints Under Coupling of Vibration and Thermal Loads

    • 电子学报   2017年45卷第7期 页码:1613-1619
    • DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.010    

      中图分类号: TN406
    • 网络出版:2017-07-25

      纸质出版:2017

    移动端阅览

  • 汤巍, 景博, 黄以锋, 等. 温度与振动耦合条件下的电路板级焊点失效模式与疲劳寿命分析[J]. 电子学报, 2017,45(7):1613-1619. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.010.

    TANG Wei, JING Bo, HUANG Yi-feng, et al. Analysis of Failure Modes and Life of Solder Joints Under Coupling of Vibration and Thermal Loads[J]. Acta Electronica Sinica, 2017, 45(7): 1613-1619. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.010.

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

452

下载量

11

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

电子封装微互连中的电迁移
基于正交试验设计的塑封球栅阵列器件 焊点工艺参数与可靠性关系研究

相关作者

尹立孟
张新平
黄春跃
周德俭
吴兆华

相关机构

华南理工大学机械工程学院
西安电子科技大学机电工程学院
桂林电子工业学院机电与交通工程系
西安电子科技大学机电工程学院陕西西安
桂林电子工业学院机电与交通工程系广西桂林
0