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考虑不完全维护影响的随机退化设备剩余寿命预测
学术论文 | 更新时间:2025-07-16
    • 考虑不完全维护影响的随机退化设备剩余寿命预测

    • Remaining Useful Life Prognostic for the Stochastic Degradation Device Subject to Imperfect Maintenance

    • 电子学报   2017年45卷第7期 页码:1740-1749
    • DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.026    

      中图分类号: TP273
    • 网络出版:2017-07-25

      纸质出版:2017

    移动端阅览

  • 郑建飞, 胡昌华, 司小胜, 等. 考虑不完全维护影响的随机退化设备剩余寿命预测[J]. 电子学报, 2017,45(7):1740-1749. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.026.

    ZHENG Jian-fei, HU Chang-hua, SI Xiao-sheng, et al. Remaining Useful Life Prognostic for the Stochastic Degradation Device Subject to Imperfect Maintenance[J]. Acta Electronica Sinica, 2017, 45(7): 1740-1749. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2017.07.026.

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