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并发程序变异测试研究综述
综述评论 | 更新时间:2025-12-08
    • 并发程序变异测试研究综述

    • Survey on Mutation Testing of Concurrent Programs

    • 电子学报   2020年48卷第11期 页码:2267-2277
    • DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2020.11.025    

      中图分类号: TP311
    • 网络出版:2020-11-25

      纸质出版:2020

    移动端阅览

  • 田甜, 巩敦卫. 并发程序变异测试研究综述[J]. 电子学报, 2020,48(11):2267-2277. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2020.11.025.

    TIAN Tian, GONG Dun-wei. Survey on Mutation Testing of Concurrent Programs[J]. Acta Electronica Sinica, 2020, 48(11): 2267-2277. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2020.11.025.

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