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电子学报  2018, Vol. 46 Issue (9): 2251-2255    DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.09.029
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菅端端, 钟明琛
中国电子技术标准化研究院, 北京 100176
Test Method of Ultra-High Speed ADC Performance in Next Generation Optical Transmission System
JIAN Duan-duan, ZHONG Ming-chen
China Electronics Standardization Institute, Beijing 100176, China

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