电子学报
 首页  |  期刊介绍  |  编 委 会  |  投稿指南  |  期刊订阅  |  综合信息  |  联系我们  |  致谢审稿人 | CJE
电子学报  2018, Vol. 46 Issue (12): 2964-2969    DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2018.12.020
学术论文 最新目录| 下期目录| 过刊浏览| 高级检索 |
一种提高芯片良率的时序电路缓冲器插入算法
戢小亮1, 佟星元1, 吴睿振2, 杜鸣3
1. 西安邮电大学电子工程学院, 陕西西安 710121;
2. 西安电子科技大学博士后流动站, 陕西西安 710071;
3. 西安电子科技大学微电子学院, 陕西西安 710071
A Sequential Circuit Buffer Insertion Algorithm for Yield Improvement of Chips
JI Xiao-liang1, TONG Xing-yuan1, WU Rui-zhen2, DU Ming3
1. School of Electronic Engineering, Xi'an University of Posts & Telecommunications, Xi'an, Shaanxi 710121, China;(;
2. Postdoctoral Station of Xidian University, Xi'an, Shaanxi 710071, China;(;
3. School of Microelectronics, Xidian University, Xi'an, Shaanxi 710071, China

版权所有 © 2012 《电子学报》编辑部
本系统由北京玛格泰克科技发展有限公司设计开发 技术支持:support@magtech.com.cn
京ICP备12041980号-1