基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

裴颂伟, 李兆麟, 李圣龙, 魏少军

电子学报 ›› 2013, Vol. 41 ›› Issue (7) : 1358-1364.

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电子学报 ›› 2013, Vol. 41 ›› Issue (7) : 1358-1364. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.018
学术论文

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

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Performance Parameter Testing for ADC and DAC IP Cores Without I/O Multiplexing in SoC Using Verigy 93000

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