一个面向缺陷分析的电路成品率与可靠性的关系模型

肖杰, 江建慧, 杨旭华, 梁家荣

电子学报 ›› 2014, Vol. 42 ›› Issue (4) : 747-755.

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电子学报 ›› 2014, Vol. 42 ›› Issue (4) : 747-755. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.04.020
学术论文

一个面向缺陷分析的电路成品率与可靠性的关系模型

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A Defect Analysis-Oriented Relation Model of Circuit Yield and Reliability

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