接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型

蒋华伟, 李战升, 武松涛

电子学报 ›› 2014, Vol. 42 ›› Issue (5) : 953-957.

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电子学报 ›› 2014, Vol. 42 ›› Issue (5) : 953-957. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.05.018
学术论文

接触电阻和扭距序列作用下CICC耦合损耗模型

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Coupling Loss Model of CICC with Contact Resistance and Cabling Sequence

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