基于增长修剪型神经网络的半导体生产线动态瓶颈分析方法

曹政才, 邱明辉, 刘民

电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (7) : 1636-1642.

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电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (7) : 1636-1642. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.07.017
学术论文

基于增长修剪型神经网络的半导体生产线动态瓶颈分析方法

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Dynamic Bottleneck Analysis for Semiconductor Wafer Fabrication System Based on Growing and Pruning Neural Networks

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