CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究

陈晓娟, 陈东阳, 吴洁

电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (11) : 2646-2652.

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电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (11) : 2646-2652. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.11.012
学术论文

CMOS反相器低频噪声模型及可靠性表征研究

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Investigation on Low-Frequency Noise Models and Representation for Reliability of CMOS Inverter

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