基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法

李鑫, 孙晋, 肖甫, 田江山

电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (12) : 2960-2966.

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电子学报 ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (12) : 2960-2966. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.12.021
学术论文

基于工艺参数扰动的IC参数成品率多目标优化算法

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A Multi-objective Optimization Framework for Robust IC Parametric Yield Predication Under Process Variations

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