一种有效的电路容错结构及其成品率分析

赵天绪;郝跃;朱建纲

电子学报 ›› 2000, Vol. 28 ›› Issue (2) : 79-82.

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一种有效的电路容错结构及其成品率分析

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An Effective Tolerant-Fault Circuit Structure and Its Yield Analysis

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国防科技预研基金资助课题;863高科技资助课题
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