一种抗热载流子退化效应的新型CMOS电路结构

PDF(140 KB)

电子学报 ›› 2000, Vol. 28 ›› Issue (5) : 65-67.

论文

作者信息 +

A New CMOS Circuit Structure for Hot-Carrier Resistance

Author information +

文章历史 +

导出引用

{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2000, 28(5): 65-67.

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2000, 28(5): 65-67.

中图分类号：

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

PDF(140 KB)

Accesses

Citation

Detail

国家自然科学基金资助课题;国防预研项目资助课题

段落导航