FLOTOXEEPROM擦写过程中隧道氧化层陷阱俘获电荷的研究

于宗光;徐征;叶守银;张国华;黄卫;王万业;许居衍

电子学报 ›› 2000, Vol. 28 ›› Issue (5) : 68-70.

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FLOTOXEEPROM擦写过程中隧道氧化层陷阱俘获电荷的研究

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The Research of Trapped Charges in FLOTOX EEPROX Tunnel Oxide During Erase/Write Cycles

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