浮栅隧道氧化层EEPROM中浮栅上电荷泄漏研究

于宗光;陆锋;徐征;叶守银;黄卫;王万业;许居衍

电子学报 ›› 2000, Vol. 28 ›› Issue (5) : 90-91.

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浮栅隧道氧化层EEPROM中浮栅上电荷泄漏研究

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The Study for Charge Leakage on The Floating-gate of FLOTOX EEPROM

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