薄SiO<sub>2</sub>层击穿特性与临界陷阱密度

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电子学报 ›› 2000, Vol. 28 ›› Issue (8) : 59-62.

论文

薄SiO₂层击穿特性与临界陷阱密度

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The Breakdown Character of Thin Oxide Film and Critical Trap Density

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