基于离散模型的IC可靠性与成品率关系

赵天绪;郝 跃;陈太峰;马佩军

电子学报 ›› 2001, Vol. 29 ›› Issue (11) : 1515-1518.

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基于离散模型的IC可靠性与成品率关系

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Relation Between Reliability and Yield of IC's Based on Discrete Model

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