全耗尽SOIMOSFET辐照导致的阈值电压漂移模型

万新恒;张 兴;谭静荣;高文钰;黄 如;王阳元

电子学报 ›› 2001, Vol. 29 ›› Issue (11) : 1519-1521.

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全耗尽SOIMOSFET辐照导致的阈值电压漂移模型

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A New Threshold Voltage Shift Model Due to Radiation in Fully-Depleted SOI MOSFET

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