薄栅介质层可靠性与陷阱统计分析

姚峰英;胡恒升;张 敏

电子学报 ›› 2001, Vol. 29 ›› Issue (11) : 1522-1525.

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薄栅介质层可靠性与陷阱统计分析

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Relation Between the Reliability of Thin Dielectric Film and Statistical Analysis of Traps

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2001, 29(11): 1522-1525.
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2001, 29(11): 1522-1525.
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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