深亚微米槽栅NMOSFET结构参数对其抗热载流子特性的影响

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电子学报 ›› 2001, Vol. 29 ›› Issue (2) : 160-163.

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Study on the Influence for Structure Parameters on the Hot-Carrier-Effect Immunity in NMOSFET

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2001, 29(2): 160-163.

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2001, 29(2): 160-163.

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国防预研基金(No.99J8.1.1.DZD132)

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