高温CMOS集成电路闩锁效应分析

柯导明;陈军宁;周国祥;代月花;高 珊;孟 坚;赵海峰

电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (12) : 1894-1896.

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高温CMOS集成电路闩锁效应分析

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The Analysis of Latch Up Characteristics in High Temperature CMOSIntegrated Circuits

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