热载流子诱生MOSFET/SOI界面陷阱的正向栅控二极管技术表征

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电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (2) : 252-254.

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Hot Carrier-Induced Interface Traps in N-Channel MOSFET/SOI Characterized by a Forward Gated-Diode Technique

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