利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功

PDF(148 KB)

电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (5) : 655-657.

论文

利用场发射显微镜测算碳化钨薄膜的逸出功

作者信息 +

Work Function of Tungsten Carbide Thin Film Calculated Using Field Emission Microscopy

Author information +

文章历史 +

导出引用

{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2002, 30(5): 655-657.

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2002, 30(5): 655-657.

中图分类号：

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

PDF(148 KB)

Accesses

Citation

Detail

国家自然科学基金(No.69890221,69971003);教育部科学技术研究重点项目基金(No.00005)

段落导航