脉冲应力增强的NMOSFET's热载流子效应研究

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电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (5) : 658-660.

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Study on Pulse Stress Enhanced Hot-Carrier Effects in NMOSFET's

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{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2002, 30(5): 658-660.

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国家863资助项目(No.863-SOC-Y-3-6-1)

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