线性余因子差分亚阈电压峰技术测量电应力诱生MOSFET界面陷阱的研究

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电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (8) : 1108-1110.

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Study on Extraction of Stress-Induced Interface Traps in MOSFETs by Linear Cofactor Differernce Subthreshold Voltage Peak Technique

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