基于迁移率波动的MOSFET线性区域1/f噪声模型

徐建生;周求湛;张新发

电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (8) : 1192-1195.

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电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (8) : 1192-1195.
论文

基于迁移率波动的MOSFET线性区域1/f噪声模型

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A Novel MOSFET 1/f Noise Model Based on Mobility Fluctuation for Linear Region

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