NMOSFET器件不同源、不同γ剂量率辐射损伤比较

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电子学报 ›› 2002, Vol. 30 ›› Issue (8) : 1229-1231.

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A Comparison of Ionizing Radiation Damage in NMOSFET Device from Different Radiation Resources and Different Dose Rate ⁶⁰Co Gamma Rays

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