高速ADC微分相位、微分增益的测试

李迅波;陈光;严顺柄

电子学报 ›› 2003, Vol. 31 ›› Issue (12) : 1897-1899.

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高速ADC微分相位、微分增益的测试

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Differential Phase and Differential Gain Testing of Analog-to-Ditital Converters ( 1.University of Electronics Science ＆ Technology,Chengdu,Sichuan 610054,China;

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