VLSI金属互连线1/<em>f<sup> γ</sup></em>噪声指数与电迁移失效

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电子学报 ›› 2003, Vol. 31 ›› Issue (2) : 183-185.

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VLSI金属互连线1/f^γ噪声指数与电迁移失效

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Correlation between Frequency Exponent of 1/f^γ Noise and Electromigration Failure in VLSI Interconnections

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{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2003, 31(2): 183-185.

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