VLSI集成电路参数成品率及优化研究进展

PDF(446 KB)

电子学报 ›› 2003, Vol. 31 ›› Issue (S1) : 1971-1974.

作者信息 +

State of the Art on Study of Parametric Yield and Its Optimization for VLSI

Author information +

文章历史 +

导出引用

{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2003, 31(S1): 1971-1974.

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2003, 31(S1): 1971-1974.

中图分类号：

原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序

PDF(446 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航