超深亚微米P<sup>+</sup>栅PMOSFET中NBTI效应及其机理研究

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电子学报 ›› 2003, Vol. 31 ›› Issue (S1) : 2063-2065.

超深亚微米P⁺栅PMOSFET中NBTI效应及其机理研究

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The Study on NBTI Mechanism and Its Effect on P⁺ Gate PMOSFET

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{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. Acta Electronica Sinica, 2003, 31(S1): 2063-2065.

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